FluorTron®多功能高光谱成像技术揭秘残留烟嘧磺隆对大豆的渐进式胁迫
中国农业科学院植物保护研究所植物病虫害生物学国家重点实验室近期在《New Plant Protection》,发表了题为 《Hyperspectral signatures reveal hidden stress in soybean caused by residual nicosulfuron》的研究,利用 FluorTron®多功能高光谱成像技术,实现了对大豆在不同浓度烟嘧磺隆胁迫下的早期高灵敏度检测。北京易科泰生态技术公司为本研究提供多模态表型分析技术方案(FluorTron®多功能高光谱成像系统+叶绿素荧光成像系统)并在 EcoTech®实验室完成实验检测分析。